SDIC-2000DIC变形/应变测量系统

产品介绍

基于航空发动机承力、包覆构件以及做功元件(叶片)变形场和位移场的非接触测试需求,我公司开发了SDIC-2000DIC 变形/应变测量系统。系统具备不同粒度和形状散斑场设计,结构件全流程变形状态监测,以及ROI区域全场形貌、位移场、应变场的高精度动态测量功能。

 

系统组成

1、图像采集模块

基于双目结构的立体视觉传感器(帧率、分辨率、结构工装按需设计定制)。

2、光源模块

采用频闪光源实现不同构件表面的照明需求。

3、同步控制模块

采用硬件触发形式实现图像采集模块与光源模块的高动态时间精度配合。

4、数据综合主机

实现采集图像数据的快速存储以及变形数据的在线分析。

5、上位机软件

进行测量系统的参数配置、多传感器协同标定、数据状态显示、测量构件变形场和应变场的图例化显示、散斑场图例设计等人机交互功能。

 

性能指标

名称

参数

相机指标

帧率、分辨率等按需定制

标定指标

优于0.1Pixel

测量指标

局部微米级位移测量精度

应变场测量精度

局部优于50微应 

 

产品优势

1、非接触式测量

无需物理接触即可获取数据,减少了对测试样品的影响,适用于各种敏感或不可触及的表面。

2、高精度

采用先进的图像匹配算法,即使在复杂的表面条件下也能实现亚像素级的定位精度。

3、全场测量

能够同时监测整个视场内的变形情况,提供全面的应变分布图。

 

解决方案

针对宏观整体变形、应变测量,采用融合编码标记点、网格线、数字散斑特征图样多立体视觉传感的方法,每支立体视觉传感器测量特定同一特征点,通过立体传感器之间的关系确定同一特征点的空间位置,由变形前后的测量数据实现宏观整体机匣变形、应变测量;在单视觉传感器视场范围,基于圆孔特征点的高精度定位,实现中粒度范围内机匣变形、应变测量;基于数字散斑相关匹配方法,实现细粒度范围内高精度机匣变形、应变测量。针对中粒度范围应变高精度测量,采用双传感器组合,通过减小传感器视场范围,提升传感器视场范围内位移测量精度,双传感器间距已知的条件,提高中粒度范围应变场测量精度。针对关键测量区域超高精度微变形测量,采用电子散斑干涉技术,利用激光投射干涉条纹,通过CCD采集机匣变形前后散斑条纹图,实现局部高精度面内、离面高精度变形测量,从而达到宏微结合的高精度整体机匣变形、应变测量。

SDIC-2000DIC变形/应变测量系统

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